top of page

MINOLTA 분광측색계 CM-36dG / CM-36dGV / CM-36d

새로이 출시된 Bench top형 MINOLTA 분광측색계 CM-36dG /​ CM-36dGV / CM-36d는 기존의 CM-3600A를 개선 업그레이드 한 제품입니다. 기존 CM-3600A의 반사, 투과, 광택 측정 등 모든 기능을 계승한 CM-36dG를 표준으로 선택하기를 권장합니다.

분광측색계 CM-36dG / CM-36dGV / CM-36d

CM-36dG
CM-36dG_1_edited.jpg

Features

 

  • CM-36dG : 수평 거치 모델로 컬러, 광택 및 UV 조절 기능을 동시에 제공

  • CM-36dGV : 수직 거치 모델로 CM-36dG 모델과 동일한 기능을 제공하며, Textile이나 Paper 시료 측정에 적합

  • CM-36d : 반사 측정 전용 기본 모델

  • 높은 안정성을 위한 파장 분석 및 조정(Option*) - WAA (파장 분석 및 조정; 라이선스 구매 가능)는 측정에 더 높은 신뢰성을 제공, 갑작스러운 온도 변화 등으로 인한 측정값의 변동 억제, 수행하는데 필요한 데이터는 화이트 캘리브레이션 중에 얻어지므로 추가 작업 불필요

  • 높은 기기 간 일치도 및 이전 모델과의 데이터 일관성 - 색도 기기 간 일치도는 ∆E*ab 0.12 (LAV/SCI) 이내로, 이전 모델 대비 20% 개선

색상과 광택을 동시 측정 할 수 있는 Two-in-one 시스템

CM36dG_01.png

작업자의 실수를 줄이기 위해 측정 상황과 조건 설정 표시

연속된 측정을 수행할 때의 작업성 개선을 위해 장비 자체의 측정 버튼 사용 가능

CM36dG_02.png

SpectraMagic NX에서 지원하는 Sample viewer function을 이용하여 측정 시료의 정확한 측정 위치 파악 가능 

CM36dG_03.png

시료 크기별로 사용 가능한 4종류의 Target Mask 제공

​큰 크기의 시료도 별도의 커팅 없이 측정 가능하도록 넓게 열리는 투과 측정 챔버

CM36dG_04.png

형광증백제를 포함하는 시료의 정확한 측정을 위한 Numerical UV Control 기능 - CM-36dG, CM-36dGV

​

CM36dG_05.png

CM-36dGV - Textile 및 종이류 측정을 위한 수직형 모델

CM36dG_06.png

Specifications

Model

Measuring geometry

​

​

​

​

​

Detector

Wavelength range

Wavelength pitch

Half bandwidth

Photometric range

Sphere size

Light source

Minimum Measurement interval

​

Illumination/
measurement areas

​

​

​​

​

Repeatability

​

​

​

Inter-instrument agreement (LAV)

UV setting

​​

Sample viewer function

​​

Internal Performance Check

Interface

Power

Operation temperature/humidity range

Storage temperature/humidity range

Dimensions

Weight

CM-36dG

Reflectance; di:8°, de:8° (diffused illumination, 8-degree viewing), equipped with simultaneous measurement of SCI (specular component included) / SCE (specular component excluded); Conforms to CIE No.15(2004), lSO7724/1, ASTM E-1164, DIN 5033 Teil7 and JIS Z8722 condition C standard.

Transmittance : di:0°, de:0° (diffused illumination, 0-degree viewing); Conforms to CIE No.15(2004), ASTM E-1164 and DIN 5033 Teil7 standard.

Silicon photodiode array (dual 40 elements)

360 to 740 nm

10nm

Approx. 10nm 

0 to 200%; Resolution: 0.01%

Φ152mm(6 inches)

3 pulsed xenon lamps(2 with UV cut filters)

Approx. SCI/ SCE measurement: 4 sec., Approx 4.5 sec(SCI/SCE/Gloss)
UV-cut / UV-adjusted measurement: 5 sec.
Transmittance measurement: 3 sec.

Reflectance: Changeable by changing the mask and settings.

LAV: Ø25.4 mm/Ø30 mm;

LMAV: Ø16 mm/Ø20 mm;

MAV (optional): Ø8 mm/Ø11 mm;

SAV (optional): Ø4 mm/Ø7 mm
Transmittance: Approx. Φ17mm

When white calibration plate is measured 30 times at 10-sec. intervals after white calibration has been performed: 
Spectral reflectance: Standard deviation within 0.1%
Colorimetric values: Standard deviation within ΔE*ab 0.02

Mean ΔE*ab 0.12 (LAV/SCI) Average for 12 BCRA Series II color tiles compared to values measured with master body

100%/0%/Adjusted - Instantaneous numerical adjustment of UV with no mechanical filter movement required; 400nm and 420nm UV cutoff filters

Using internal camera - Image viewable/copieable using optional software such as SpectraMagix NX Ver.3.2 or later

WAA(Wavelength Analysis & Adjustment) Technology - WAA license 구매 필요

USB 2.0

전용 AC Adapter

13 to 33℃, relative humidity 80% or less(at 33℃) with no condensation

​

0 to 40℃, relative humidity 80% or less(at 35℃) with no condensation

​

Approx. 248 x 250 x 498mm 

Approx. 8.4kg

MINOLTA CM-36dG/CM-36dGV/CM-36d 카타로그

bottom of page